日本Hirayama HAST

  HAST CHAMBER又稱為超加速壽命試驗機,適用在IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗, 比較傳統之恒溫恒濕設備85/85%R.H.試驗時, 可以節省大量時間, 當測試溫度越高, 壓力越大,測試時間縮短越多, 在質量檢驗上大量節省電力, 人力, 物力, 提升產品競爭力.